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Exquis T4型全谱直读光谱仪
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Exquis T4型全谱直读光谱仪
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Exquis T4型全谱直读光谱仪

Exquis T4型全谱直读光谱仪,采用了光室密封循环充氩系统,高分辨率的CMOS全谱检测技术,使得仪器既有紧凑流线的外观设计,同时具有极佳的分析性能; 可用于铸造、来料检验、质量控制、废品回收等金属材料及金属产品分析的各个方面;可满足Fe、Al、Cu、等多种金属及其合金的材质分析要求。
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  • Exquis T4型全谱直读光谱仪产品介绍

  Exquis T4直读光谱仪,采用了特殊的光室结构设计,光室密封氩气循环系统,CMOS全谱接收技术,全元素分析范围等特点。杰博公司融合了多项自主创新技术,精工于内、大道至简,针对不同客户的需求,而推出的这款充氩式全谱直读火花光谱仪,可满足Fe、Al、Cu、等多种金属及其合金的材质分析要求。

1铸造 1冶金 1机械 1炉前 1金属加工 1金属材料质量鉴定 

t4

CCD

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全谱谱线图

1CMOS全谱分析技术

丰富的谱线信息,分析灵敏线更多,保证分析的准确度;

基于全谱测量的数据,能够正确区分背景和谱线,有效提高测量精度;

智能选择合适的灵敏线,通过多谱线结合技术,实现低中高含量段的检测需求;

基于全谱测量数据的多峰拟合技术,有效消除谱线干扰,实现精准测量。

1

CMOS线阵传感器

1实时智能漂移校正技术

在分析过程中,适时进行光谱漂移校正,增强仪器稳定性;

减少标准化校正次数,延长校正周期;

自动完成仪器校正,操作更加简便。

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谱线漂移校正

1独特的CMOS检测技术优于CCD

CMOS相比CCD具有更高的灵敏度和响应速度;

CMOS相比CCD具有更好的线性度;

CMOS相比CCD具有更高的紫外光敏感度,在深紫外区如碳、硫、磷、砷、氮等短波元素的检测更准确。

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紫外元素强度对比

1

750430

5 CMOS全谱接收技术;

5 光室密封氩气循环系统;

5 人性化一键激发,一键紧急停止;

5 一体化光室光学系统设计;

5 可编程脉冲全数字光源技术;

5 可分析Fe、Al、Cu、等多种基体;

5 波长范围165-530mm,可满足更多元素的分析要求。

  • Exquis T4型全谱直读光谱仪技术参数
 
  • Exquis T4型全谱直读光谱仪应用方案
 
  • Exquis T4型全谱直读光谱仪配套附件
 
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